紅外膜厚儀儀器組成和測(cè)量原理：

　　由激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號(hào)處理機(jī)測(cè)量結(jié)果顯示系統(tǒng)組成。激光束在被測(cè)物體表面上形成一個(gè)亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產(chǎn)生探測(cè)其敏感面上光斑位置的電信號(hào)。當(dāng)被測(cè)物體移動(dòng)時(shí)，其表面上光斑相對(duì)成像物鏡的位置發(fā)生改變，相應(yīng)地成像點(diǎn)在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化。

　　利用紅外光穿透物質(zhì)時(shí)的吸收、反射、散射等效應(yīng)實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量薄膜類(lèi)材料的厚度。當(dāng)射線(xiàn)穿過(guò)被測(cè)材質(zhì)時(shí)，一部分射線(xiàn)被材質(zhì)吸收導(dǎo)致強(qiáng)度減弱，利用這一原理來(lái)檢測(cè)被測(cè)物質(zhì)的厚度。被測(cè)材質(zhì)位于放射源和核探測(cè)器之間，射線(xiàn)穿過(guò)被測(cè)材質(zhì)后進(jìn)入核探測(cè)器，其強(qiáng)度將有所衰減。對(duì)于同一種材質(zhì)，厚度越大，則射線(xiàn)的衰減越大。

　　紅外膜厚儀進(jìn)行測(cè)量時(shí)有哪些注意事項(xiàng)：

　　周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

　　在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

　　基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

　　試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

　　不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。